微电子测试和技术淘汰计划


微电子测试和技术过时计划新墨西哥州的微电子测试和技术过时计划(METTOP) 技术是为了解决系统受到影响的客户所面临的挑战而创建的 通过“减少制造来源和材料短缺”(又名“DMSMS”).

METTOP的技术能力和测试设备提供具有成本效益的测试 先进的微电路为各种技术兴趣各异的客户提供服务. 我们的专长是评估核辐射和空间辐射对存储设备的影响.

METTOP提供测试计划,设备调度,测试执行,分析和报告 作为一个提供全方位服务的测试机构. 与其他测试设备联合使用 在格兰德河走廊(白沙导弹靶场,桑迪亚国家实验室, 空军研究实验室),METTOP提供完整的辐射测试 服务.

在METTOP工厂,测试和研究工程师操作最先进的电子设备 测试设备包括两个主机混合信号测试仪,可以表征 部件与多达768引脚. 与新墨西哥科技电气工程公司合作 以及材料和冶金工程部门,METTOP可以提供广泛的 服务范围包括环境测试,扫描电子显微镜,和 半导体器件材料分析.

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